Echlin P. Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis (New York, 2009). - ОГЛАВЛЕНИЕ / CONTENTS
Навигация

Архив выставки новых поступлений | Отечественные поступления | Иностранные поступления | Сиглы
ОбложкаEchlin P. Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis. - New York: Springer, 2009. - xi, 330 p.: ill. - Ref.: p.317-322. - Ind.: p.323-330. - ISBN 978-0-387-85730-5
 

Оглавление / Contents
 
Acknowledgments ................................................ ix
Chapter 1  Introduction ......................................... 1
Chapter 2  Sample Collection and Selection ..................... 11
Chapter 3  Sample Preparation Tools ............................ 19
Chapter 4  Sample Support ...................................... 31
Chapter 5  Sample Embedding and Mounting ....................... 47
Chapter 6  Sample Exposure ..................................... 65
Chapter 7  Sample Dehydration .................................. 97
Chapter 8  Sample Stabilization for Imaging in the SEM ........ 137
Chapter 9  Sample Stabilization to Preserve Chemical 
           Identity ........................................... 185
Chapter 10 Sample Cleaning .................................... 235
Chapter 11 Sample Surface Charge Elimination .................. 247
Chapter 12 Sample Artifacts and Damage ........................ 299
Chapter 13 Additional Sources of Information .................. 307
References .................................................... 317
Index ......................................................... 323


Архив выставки новых поступлений | Отечественные поступления | Иностранные поступления | Сиглы
 

[О библиотеке | Академгородок | Новости | Выставки | Ресурсы | Библиография | Партнеры | ИнфоЛоция | Поиск | English]
  Пожелания и письма: branch@gpntbsib.ru
© 1997-2020 Отделение ГПНТБ СО РАН (Новосибирск)
Статистика доступов: архив | текущая статистика
 

Документ изменен: Wed Feb 27 14:24:20 2019. Размер: 4,764 bytes.
Посещение N 887 c 04.12.2012