Минин И.В. Метрология в фотонике и нанооптике (Новосибирск, 2016) - ОГЛАВЛЕНИЕ
Навигация
ОбложкаМинин И.В. Метрология в фотонике и нанооптике / И.В.Минин, О.В.Минин. - Новосибирск: СГУГиТ, 2016. - 171 с.
ШИФР ОТДЕЛЕНИЯ ГПНТБ СО РАН     З 85-М618  
Оглавление книги
Введение ........................................................ 4
Библиографический список ....................................... 12

1  Метрология в оптоэлектронных приборах и фотонике ............ 14
   1.1  Предмет и задачи метрологии ............................ 18
   1.2  Метрологические характеристики средств измерений
        и процедуры их подтверждений ........................... 24
   1.3  Требования к источникам оптического излучения .......... 25
   1.4  Среда распространения .................................. 34
   1.5  Требования к оптической системе ........................ 39
   1.6  Требования к оптическим фильтрам ....................... 41
   1.7  Требования к анализаторам изображений .................. 42
   1.8  Требования к приемникам оптического излучения .......... 42
   1.9  Метрологическое обеспечение фотоники ................... 46
   Библиографический список .................................... 59
2  Метрология в нанооптике ..................................... 61
   2.1  Нанометрология ......................................... 61
   2.2  Измерительные потребности .............................. 79
   2.3  Особенности измерений в области нанотехнологий ......... 81
   2.4  Методы измерений, применяемые в нанометрологии ......... 82
   2.5  Метрологическое обеспечение измерений в
        нанотехнологиях ........................................ 88
   2.6  Оптические свойства наноматериалов ..................... 94
   2.7  Фотонные кристаллы ..................................... 96
   2.8  Метаматериалы. Отрицательное преломление ............... 98
   2.9  Наноплазмоника. Поверхностные плазмоны ................ 101
   2.10 Теория Ми рассеяния и поглощения излучения ............ 103
   2.11 Практическое использование рассеяния излучения на
        наночастицах .......................................... 104
   2.12 Основные понятия в области материаловедения ........... 106
   2.13 Методы и средства исследования нанообъектов ........... 109
   2.14 Лицензирование и сертификация технологий .............. 113
   2.15 Международные, региональные и зарубежные
        национальные организации в области стандартизации.
        Метрологии и сертификации, научные общества и
        организации ........................................... 116
   2.16 Метрологическое обеспечение систем диагностики
        материалов ............................................ 117
   2.17 Методы и средства испытания материалов ................ 120
   2.18 Сертификация диагностических систем материалов
        и новой продукции ..................................... 128
   2.19 Сертификация ГОСТ Р ................................... 129
   2.20 Протоколы испытаний ................................... 131
   Библиографический список ................................... 134
3  Устройства фотоники на основе фотонных струй ............... 137
   Библиографический список ................................... 162

Заключение .................................................... 169

Монография содержит основные сведения по метрологическому обеспечению фо-тоники и нанооптики. Рассмотрены ключевые понятия, проблемы стандартизации и метрологии в фотонике и нанооптике. Наиболее подробно описаны вопросы, посвященные метрологическим характеристикам средств измерений и процедурам их подтверждений; требования к источникам оптического излучения, среде распространения, оптической системе, оптическим фильтрам, приемникам оптического излучения и метрологическому обеспечению фотоники. Также значительное внимание уделено новому направлению - нанометрологии. Рассмотрены особенности измерений в области нанотехнологий, методы измерений, применяемых в нанометрологии; методы и средства исследования нанообъектов, вопросы лицензирования и сертификации технологий, метрологическое обеспечение систем диагностики материалов; методы и средства испытания материалов и сертификация диагностических систем материалов и новой продукции.
Монография может использоваться аспирантами, магистрантами, а также студентами специальности 27.03.01 «Стандартизация и метрология».
Рекомендована к изданию Ученым советом Института оптики и оптических технологий СГУГиТ.


Архив поступлений новой литературы | Отечественные поступления | Иностранные поступления
 

[О библиотеке | Академгородок | Новости | Выставки | Ресурсы | Библиография | Партнеры | ИнфоЛоция | Поиск]
  Пожелания и письма: branch@gpntbsib.ru
© 1997-2024 Отделение ГПНТБ СО РАН (Новосибирск)
Статистика доступов: архив | текущая статистика
 

Документ изменен: Wed Feb 27 14:29:30 2019 Размер: 10,383 bytes.
Посещение N 912 c 30.05.2017