Изобретение относится к способам определения энантиомерного избытка хиральных соединений по их люминесцентным характеристикам.
Один из способов определения энантиомерного избытка хиральных соединений включает измерение спектров люминесценции анализируемых образцов, измерение спектров люминесценции образцов с заведомо известным энантиомерным составом и сравнение полученных спектров испускания люминесценции, а также построение зависимости интенсивности люминесценции от энантиомерного избытка. Второй способ определения энантиомерного избытка хиральных соединений дополнительно включает предварительное допирование анализируемых образцов люминесцентными зондами в низких концентрациях, а также допирование образцов хирального соединения с заведомо известным энантиомерным составом теми же люминесцентными зондами в той же концентрации. Технический результат изобретения заключается в возможности определения энантиомерного избытка хиральных соединений без использования внешних асимметрических вспомогательных агентов, а также без определения поляризации излучения.